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SELECT Institucion FROM PublicObrasAutoresFil WHERE RefPublicacion = 544456 AND InstitucionPropia = 'S' UNION SELECT Adscripciones.Entidad FROM PublicacionesObras JOIN PublicObrasAutores ON PublicacionesObras.Identificador = PublicObrasAutores.RefPublicacion JOIN Adscripciones ON PublicObrasAutores.NumeroEmpleado = Adscripciones.NumeroEmpleado WHERE (PublicacionesObras.FechaPublicacion BETWEEN Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta OR (PublicacionesObras.FechaPublicacion >= Adscripciones.FechaDesde AND Adscripciones.FechaHasta IS NULL)) AND PublicacionesObras.Identificador= 544456

Título del libro: 2017 Ieee 44th Photovoltaic Specialist Conference, Pvsc 2017
Título del capítulo: Field inspection of PV modules: Quantitative determination of performance loss due to cell cracks using el images

Autores UNAM:
CARLOS ALBERTO RODRIGUEZ CASTAÑEDA; HAILIN ZHAO HU;

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Autores externos:

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Idioma:
Inglés

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Año de publicación:
2017

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Palabras clave:

Cells; Cytology; Electroluminescence; Microcracks; Photovoltaic cells; Field inspection; Image processing tools; Non-linear correlations; Operation and maintenance; Performance data; Performance loss; Photovoltaic modules; Quantitative determinations; Image processing

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Resumen:

Electroluminescence (EL) imaging has been used by the operation and maintenance companies for a qualitative detection of cells cracks in the fielded photovoltaic (PV) modules. This paper presents our attempts to statistically determine the inactive area of the cells in a PV module using processed EL images and to quantitatively correlate the remaining active area with the performance data including quantum efficiency (QE) and short-circuit current (ISC). Commercially available image processing tools have been used to extract the statistics of the defective (inactive) areas of the cells in a module. The power parameter against EL-determined active area can have linear, independent or non-linear correlation depending on whether the cells are having microcracks, part cell isolation or shunting which affect VOC, ISC and FF linearly or non-linearly. © 2017 IEEE.

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Entidades citadas de la UNAM:

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Fuente:


ISBN:
9781509056057
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Tipo de producto:
Conference Paper

DOI:
10.1109/PVSC.2017.8366560