SIIA Público

Estudio del índice de refracción no lineal y coeficiente de absorción de tercer orden en películas amorfas de SiO2:DR1 y mesoestructuradas de SiO2/CTAB:DR1 mediante la técnica Z-scan en función de la potencia de excitación

Sinodales:
JORGE ALFONSO GARCIA MACEDO;

Autores:
Salas Gamez, Gerardo

Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura

Entidad presentadora de examen profesional:
Facultad de Ciencias

Entidades por adscripción en la UNAM:
Instituto de Física;