Niveles de Landau en grafeno con distorsión de Kekulé y espín-órbita inducidos

Sinodales:
FRANCISCO MIRELES HIGUERA;
Autores:
Galván y García, Santiago
Tipo de tesis:
Tesis de Licenciatura
Entidad presentadora de examen profesional:
Centro de Nanociencias y Nanotecnología en la UNAM
Entidades por adscripción en la UNAM:
Centro de Nanociencias y Nanotecnología en la UNAM;